Electronics Pick-up by Akira Fukuda

日本で2番目に(?)半導体技術に詳しいライターのブログ

IRPS 2012現地レポート第1弾

国際信頼性物理シンポジウム(IRPS)の取材で米国カリフォルニア州アナハイムにきております。現地レポート第1弾をPCWatch様に掲載していただきました。


「ばらつきがもたらす「CMOS微細化の終焉」」
http://pc.watch.impress.co.jp/docs/news/event/20120420_527650.html
製造ばらつきの影響は微細化が進むとともに深刻になっています。すでにSRAMではいろいろな不良対策を組み込むことが当たり前になっています。


製造ばらつきによってハード不良とソフト不良の境界があいまいになってきており、従来はソフト不良を起こしていた製造ばらつきが、ハード不良のようなモードを引き起こすようになったこと。将来はロジックにもばらつきの影響が及ぶという予測を紹介しています。


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【追記】PCWatchの週間アクセスランキングで9位になりました。ありがとうございます。
http://pc.watch.impress.co.jp/docs/news/accessranking/20120423_528569.html