PCWatch誌に掲載していただいている、IRPS 2011レポートの第3弾です。
「中性子線がボードのCPUやメモリなどを誤動作させる仕組み」
http://pc.watch.impress.co.jp/docs/news/event/20110505_443999.html
中性子線ソフトエラーの現状と将来に関する、日立製作所の伊部英史氏による招待講演の内容をご紹介しております。
最新の半導体チップでは、1個の中性子線がシリコン・ダイに衝突すると、複数個所でエラーが発生するようになってきました。かなり厄介な状況です。元々はSRAMの不良としてよく知られていたのですが、最近ではロジックでも不良を起こすようになってきました。詳しくは本文をお読みいただけるとうれしいです。
それから、IRPS実行委員会のご厚意で、過去のIRPSレポートに関するリンクを作っていただきました。有り難いことです。
http://www.irps.org/more/press/
追記）週間アクセスランキングで7位に入りました。ありがとうございます
http://pc.watch.impress.co.jp/docs/news/accessranking/20110509_444267.html
これでIRPS 2011からは2本のレポートがランキング入りしたことになります。
