米国カリフォルニア州パサデナ市で開催中のIRPSから、現地レポートをPCWatch誌に掲載していただきました。
「微細化による論理回路のソフトエラー対策をBroadcomなどが発表」
http://pc.watch.impress.co.jp/docs/news/event/20160421_754358.html
16nm FinFETの論理回路におけるソフトエラー対策とその効果を発表した論文と講演から、レポートを書いております。
今回は最先端ロジックのソフトエラーに関する研究発表が多いです。微細化が進んだ結果、ロジックのソフトエラーに関心が集まっていることがうかがえます。
