IRPS 2012レポート第2弾「SRAMソフトエラー」 - Electronics Pick-up by Akira Fukuda

IRPS 2012レポートの第2弾をPCWatch様に掲載していただきました。

40nm技術によるSRAMのソフトエラーをフィールドで測定した結果です。測定期間を短くするために高山地帯で測定していますが、それでも10カ月を要しています。

測定結果から中性子線ソフトエラーとアルファ線ソフトエラーについて130nm技術からの微細化トレンドを分析していますが、一本調子のトレンドではなく、いろいろと今後の調査が必要な複雑なものとなっています。

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写真はポスターセッションの会場となったアナハイムの美術館です。IRPSは、ポスタセッションを講演会場とは別の場所で開催することがわりと多いです。以前にシリコンバレーで開催したときは、コンピュータ歴史博物館でポスタセッションをやっていました。面白い趣向です。