Electronics Pick-up by Akira Fukuda

日本で2番目に(?)半導体技術に詳しいライターのブログ

国際信頼性物理シンポジウム(IRPS)のレポート第3報「再現しない不良をあらかじめ取り除く」


IRPSレポートの第3報です。PCWatch誌に掲載していただいております。


「「再現しない不良」をあらかじめ取り除く 」
http://pc.watch.impress.co.jp/docs/news/event/20150428_699918.html


「不再現」、「NTF(No Trouble Found)」などと呼ばれる、不良が再現しない不良品に関する講演論文を紹介しております。半導体メーカーのFreescale Semiconductorと、半導体ユーザーのCiscoが共同で多大な努力を積み重ねて得た結果であることがうかがえます。なおかつ、(詳細は隠されているものの)こういった成果を公表するのが凄い。


なお、論文には載せなかった重要なグラフを講演では見せていました。多変量解析の結果で、3つのパラメータによって測定点を3次元的に表示したものです。鶏卵のような形状に青いプロットはかたまっているのですが、そこから外れたいくつかの赤いプロットが「不再現」品となっていることを鮮やかに示していました。


ご興味のある方は、じっくり記事をよまれることをお薦めします。

【追記】週間アクセスランキングで10位に入りました!!
http://pc.watch.impress.co.jp/docs/news/accessranking/20150507_700758.html
これも皆様のおかげです。ありがとうございました!