IRPS2011レポートをCQ出版様のウエブ・サイトにも掲載していただきました
「ソフト・エラーの新要因やTSVの信頼性データなどが登場 ―― 国際信頼性物理シンポジウム（IRPS）2011」
http://www.kumikomi.net/archives/2011/05/rp16irps.php
ここで紹介した講演はPCWatchに執筆したものとまったく違います。ミューオンによるソフトエラー、シリコン貫通電極（TSV）の信頼性、NBTI劣化のメカニズムを説明するモデル、などが話題です。
お手すきのときにでも閲覧いただけるとうれしいです。
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