Electronics Pick-up by Akira Fukuda

日本で2番目に(?)半導体技術に詳しいライターのブログ

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コラム「デバイス通信」を更新。「高融点金属の多層配線技術が2nm以降のCMOSを実現」

EETimes Japan様から頂いておりますコラム「デバイス通信」を更新しました。

シリーズ「 imecが語る3nm以降のCMOS技術」の第22回となります。
前回から多層配線技術を解説しています。

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銅(Cu)配線の限界に備えた、次世代配線技術の有力候補を挙げています。

imecではルテニウム(Ru)が有力と考え、「セミダマシン」と呼ぶ技術を開発中です。


詳しくは記事をお読みいただけるとうれしいです。


2010年発行。最近は古い本しか見つかりません。悲しい。

コラム「デバイス通信」を更新。「3nm以降のCMOSロジックを支える配線技術」

EETimes Japan様から頂いておりますコラム「デバイス通信」を更新しました。

シリーズ「 imecが語る3nm以降のCMOS技術」の第21回となります。今回から多層配線技術がテーマとなります。


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技術ノードの寸法名が7nm、5nm、3nm、2nmと縮小していくのに対し、多層配線のピッチ(MP)はあまり縮みません。
微細化が鈍化してきています。銅配線に限界が見え始めており、代替金属の配線開発が本格的に進んでおります。


詳しくは記事をお読みいただけるとうれしいです。

コラム「デバイス通信」をさらに更新。「10nm以下の微細ゲートを実現する2次元材料のトランジスタ技術」

EETimes Japan様から頂いておりますコラム「デバイス通信」を続けて更新しました。

(すみません!! 寝ぼけて書いていたようで旧テキストが支離滅裂でした。全面改定しております)

新シリーズ「 imecが語る3nm以降のCMOS技術」の第20回となります。
前回から、ポストシリコン材料のトランジスタ技術に突入しました。
「サブnm時代に向けた2次元材料のトランジスタ技術」です。

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前回で不足していた、2次元材料に関する説明を追加しました。
試作したトランジスタ(バックゲート型)の断面観察像と、
シミュレーションでフォークシート構造に応用したときの特性を述べております。

お手すきのときにでも、記事をながめていただけるとうれしいです。

コラム「デバイス通信」を久々に更新。「サブnm時代に向けた2次元材料のトランジスタ技術」

EETimes Japan様から頂いておりますコラム「デバイス通信」を久々に更新しました。

新シリーズ「 imecが語る3nm以降のCMOS技術」の第19回となります。
今回から新しいパートに入ります。ポストシリコン材料のトランジスタ技術です。

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2次元(2D)材料をチャンネルに使うMOS FETとなります。
2次元材料は厚みが単原子層~数原子層と薄いので、短チャンネル効果を抑えられます。


詳しくは記事をお読みいただけるとうれしいです。