NSREC 2011レポート第3号が掲載されました

7月26〜29日に米国ネバダ州ラスベガスで開催されたNSRECL 2011のレポート第3号をPCWatch様に掲載していただきました。たぶんこれが最終号です。

「放射線が弱くなると半導体チップの劣化が早まる」
http://pc.watch.impress.co.jp/docs/news/event/20110810_466680.html
バイポーラデバイスに特有の現象「ELRDS(Enhanced Low Dose Rate Sensitivity)」を扱っています。

ガンマ線や電子線などの放射線照射の累積によって半導体チップの性能劣化が進むのですが、性能劣化が始まる累積線量（総ドーズ量）には、放射線の強さ（ドーズ率）に対する依存性があります。バイポーラの場合、低いドーズ率だと総ドーズ量が低くなる（劣化が早まる）という厄介な性質があります。

このELRDS効果を実際の市販チップで検証した結果をご紹介しております。
この測定、超低ドーズ率なのでものすごく時間がかかります。数年というレベルです。こんな長い時間のかかる研究にお金が出てくることは、結構すごいことです。

ガイガーカウンター 米国DoseRAE2 PRM1200 高性能放射線測定器 【日本語説明書・1年間保証】

シンチレーションカウンター（放射線測定器）
ガイガーミュラー計数管よりも精度は高いです