EETimes Japan様から頂いておりますコラム「ストレージ通信」を更新しました。
「強誘電体メモリの再発見（12）：FeRAMの長期信頼性に関する特徴」
http://eetimes.jp/ee/articles/1708/10/news023.html
長期信頼性といえばデータ保持期間と書き込みサイクルです。ただし強誘電体メモリでは、読み出しでも劣化があります。このため、「読み出し回数プラス書き込み回数」でアクセス回数が制限されます。まずはこの点について指摘しております。
それから長期信頼性を左右する2つの物理現象を説明しております。「疲労（ファティーグ）」と「インプリント」です。いずれも強誘電体メモリ（FeRAM）」の長期信頼性を損ねる、厄介な現象です。
詳しくは記事をお読みいただけるとうれしいです。
