Electronics Pick-up by Akira Fukuda

日本で2番目に(?)半導体技術に詳しいライターのブログ

コラム「デバイス通信」を更新しました「7nm時代の高移動度FETが直面する現実」

EETimes Japan誌で連載しておりますコラム「デバイス通信」。今週2回めの更新です。7nm時代のCPU設計の続きです。


「ARMから見た7nm CMOS時代のCPU設計(13)〜高移動度FinFETの期待と現実」
http://eetimes.jp/ee/articles/1505/20/news032.html
7nm時代になるとコンタクト抵抗や配線抵抗、配線容量などがロジック集積回路LSI)の性能を支配するようになります。トランジスタの性能が上がったとしても、抵抗増分と容量増分が大きくて全体の性能を押し下げてしまう。この厳しい現実を紹介しております。


お手すきのときにでも、眺めていただければうれしいです。