Electronics Pick-up by Akira Fukuda

日本で2番目に(?)半導体技術に詳しいライターのブログ

コラム「デバイス通信」を更新しました。ARMのCPU設計の続き「PVTコーナー問題」

EETimes Japan誌の連載コラム「デバイス通信」を更新しました。ARMのCPU設計シリーズの続き(第10回)です。まだまだ続きます。


「ARMから見た7nm CMOS時代のCPU設計(10)〜PVTコーナーの増加がタイミング解析を難しくする」
http://eetimes.jp/ee/articles/1504/21/news009.html


プロセス(P)、電圧(V)、温度(T)のトレードオフによって設計の収束点が変動します。PVTコーナーが増えると、収束可能な範囲がどんどん狭くなり、設計を困難にします。微細化の進行でPVTコーナーが増える。レイアウト依存性が強まる。設計はますます難しくなります。


お手すきのときにでも閲覧いただけるとうれしいです。