国際信頼性物理シンポジウム（IRPS）を取材したときに参考書として使った本です。
「はじめてのデバイス評価技術」
故障解析の手順、信頼性試験方法、寿命推定の方法などの記述が参考になります。
特に、試験をどこで打ち切るかの部分が参考になりました。実務上、試験時間をどこまでにするかはすごく重要ですから。
故障モードではエレクトロマイグレーションとTDDBについて詳しく解説しているものの、ホットキャリアやラッチアップなどはほとんどふれていません。
これ1冊で足りる、という訳にいかなかったのがちょっと哀しいところでした。
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