国際信頼性物理シンポジウム（IRPS）を取材したときに参考書として使った本です。 「はじめてのデバイス評価技術」ISBN:4769311796故障解析の手順、信頼性試験方法、寿命推定の方法などの記述が参考になります。 特に、試験をどこで打ち切るかの部分が参考に…