Electronics Pick-up by Akira Fukuda

日本で2番目に(?)半導体技術に詳しいライターのブログ

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コラム「セミコン業界最前線」を更新しました「無兆候データ不良の検出や中古ICの寿命推定などの新技術がIRPS 2025に登場」

PC Watch様から頂いておりますコラム「セミコン業界最前線」を更新しました。
3月30日に米国カリフォルニア州モントレーで始まる「国際信頼性物理シンポジウム(IRPS)の予告編(後半)です。
開催前ぎりぎりの掲載となります。

前半では技術講演のハイライトをほとんど紹介できませんでした。

後半は、前半では紹介できなかった、技術講演のハイライトです。

pc.watch.impress.co.jp

紹介した分野の一覧を以下に述べます。
前半レポート)
GaNデバイス

後半レポート)
SiCデバイス
先端トランジスタ(経時絶縁破壊、ホットキャリアなど)
パッケージング
サイレントデータエラー
残存寿命推定
故障率推定
エレクトロマイグレーション(微細配線とC4バンプ
配線のTDDB
磁気抵抗メモリ

ほかのテーマとポスター発表は割愛させていただきました。


詳しくは記事をお読みいただけると、とってもうれしいです。