Electronics Pick-up by Akira Fukuda

日本で2番目に(?)半導体技術に詳しいライターのブログ

コラム「ストレージ通信」を更新。「抵抗変化メモリの長期信頼性」

EETimes Japan誌に掲載していただいておりますコラム「ストレージ通信」を更新しました。


SanDiskが語る、抵抗変化メモリの長期信頼性」
http://eetimes.jp/ee/articles/1612/09/news018.html


ここで長期信頼性とは書き換えサイクル数とデータ保持期間のことです。書き換えサイクル数はリセット電流が下がると回数が減少する傾向にあります。書き換え消費電流を下げるにはセット電流を下げたい。すると書き換サイクル数が減ってしまいます。トレードオフがあります。

データ保持期間も、リセット電流が下がると減少する傾向にあります。それもあるところから、急激に下がってしまう。なかなか難しいところです。