IEDM 2015プレビューの第8回を掲載「折り曲げ可能な電子回路」、「トランジスタの経年劣化」、「超低抵抗コンタクト」などがテーマ

EETimes Japan誌で連載しているIEDM 2015プレビュー記事の第8回が掲載されました。

「IEDM 2015プレビュー（8）：折り曲げ可能なNANDフラッシュメモリ」
http://eetimes.jp/ee/articles/1511/20/news036.html

「折り曲げ可能な電子回路」や「トランジスタの経年劣化」、「超低抵抗コンタクト」などがテーマのセッションを紹介しております。