Electronics Pick-up by Akira Fukuda

日本で2番目に(?)半導体技術に詳しいライターのブログ

国際信頼性シンポジウム(IRPS 2013)の取材で米国はモントレーにきております

現地レポートをPCWatch様に掲載していただいております。

IRPS 2013前日レポート
「FinFET(トライゲート)の信頼性データが続出」
http://pc.watch.impress.co.jp/docs/news/event/20130417_596101.html


改めて見ると、タイトルを失敗したー! 「インテル」を入れるべきだったっす。つまりこうすべき。
IntelからFinFET(トライゲート)の信頼性データが続出」
うわーん。工夫が足りませんでした。がくり。


それはそうと。会場のHyatt RegencyホテルのConference Centerが改装されていました。外観は変わらないのですが、内装はまったくの別ものです。とてもきれいでなおかつ電脳化されております。写真は壁面の液晶モニターです。


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