マイコミジャーナルに随時掲載中です。
「IEDM 2008 - 基調講演、脳神経と半導体を結びつけたデバイスの実現へ」
http://journal.mycom.co.jp/articles/2008/12/17/keynote/index.html
基調講演2件の概要を紹介しております。1件はタイトルのもの。もう1件は不揮発性メモリの将来を展望した講演です。
「IEDM 2008 - フラッシュメモリにも中性子線ソフトエラーが発生」
http://journal.mycom.co.jp/articles/2008/12/17/iedm2008flashmemory/index.html
微細化とマルチレベルセル化によってフラッシュメモリにも中性子線ソフトエラーが起こるようになったとの報告です。フラッシュメモリは中性子線ソフトエラーとは無縁といわれていたのですが。欧州の共同研究チームが膨大な労力をかけたことが伺える研究成果です。
