PC Watch様から頂いておりますコラム「セミコン業界最前線」を更新しました。
【福田昭のセミコン業界最前線】「誰でもサイバーテロ」時代の半導体信頼性技術 ～「電子機器・集積回路の信頼性に関する国際シンポジウム」から - PC Watch
半導体の信頼性技術に関する国際イベント「電子機器・集積回路の信頼性に関する国際シンポジウム」のレポートです。
京都工芸繊維大学が主催したイベントで、半導体の信頼性技術に関する国際的なイベントとしてはたぶん、初めてです。
米国、ドイツ、フランス、中国の研究者が講演してくださいました（ただし中国の講演者は査証の関係で来日できなかったので、会場と現地をインターネットで結んで講演を聴講するという形式でした）。
レポートで紹介したのは、以下の講演です。
DRAMの不良モードとして知られるロウハンマーを利用するとセキュリティを脅かせるという講演。
トランジスタや配線などの劣化をリアルタイムにモニターする回路「シリコンオドメーター」の講演。
電源電圧をスケーリングする技術と基板（ボディ）をバイアスする技術を比較した講演。
いずれも参考になりました。
お手すきのときにでも、記事を眺めていただけるとうれしいです。
