EETimes Japan様から頂いておりますコラム「デバイス通信」を更新しました。
IEDM 2017のプレビュー第4回です。技術講演セッション2日目の午前の部の続きです。
さりげに興味深かったのが富士通研究所の「ホルムアルデヒドを検出するガスセンサー」。ホルムアルデヒドはビルディングシック症候群の原因とされている化学物質の代表です。これを2次元材料の二流化スズで検出するという。どんな仕組みなのか、論文が楽しみです。
お手すきのときにでも、記事を眺めていただけるとうれしいです。
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